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JIS P4501-1981 卫生纸

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 23:26:18  浏览:8121   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:
【原文标准名称】:卫生纸
【标准号】:JISP4501-1981
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1981-02-15
【实施或试行日期】:1981-02-15
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄页纸;卫生纸;卫生器具;纸制品;滚轧;卷材
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y39
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:General
【原文标准名称】:半导体器件.机械和环境试验方法.第1部分:总则
【标准号】:IEC60749-1Corrigendum1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;温度变化;气候;气候试验;组件;尺寸;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境;环境条件;环境试验;易燃性;集成电路;机械试验;潮气;特性;耐力;半导体器件;半导体;温度;试验;外观检查(试验)
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentalcondition;Environmentaltesting;Flammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Properties;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThisstandardisSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:General;Corrigendum1.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语



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